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IM4000Ⅱ標準離子研磨儀使用低能量Ar離子束，加工無應力損傷的樣品截面，為SEM觀察樣品的內(nèi)部多層結構、結晶狀態(tài)、異物解析、層厚測量等提供有效的樣品前處理方法

PIPS Ⅱ 精密離子減薄儀用于高質量透射電鏡樣品的制備，它可精確定位減薄位置并對工藝參數(shù)進行精確控制

AutoMet系列研磨拋光機專為嚴苛的生產(chǎn)實驗室環(huán)境而設計

VibroMet2振動拋光機可通過幾乎水平方向的振動，搭配MasterMet2二氧化硅拋光液使用，可去除樣品表面機械化制樣后殘留的細微變形層，從而得到高質量的拋光表面，而不必使用電解拋光制備所必需的危險電解液

凹坑研磨儀預先切薄以接近電子透明度的快速可靠的機械方法，可顯著減少離子研磨時間和薄度不均現(xiàn)象。

型號：GVC-2000/GVC-2000P/GVC-2000TD磁控離子濺射儀顆粒更小，更適宜于高倍圖像觀測，適配場發(fā)射/高分辨場發(fā)射電鏡；低壓大電流濺射，效率更高。